Methods for simultaneous measurements of topography and local electrical properties using scanning force microscopy
- Two different approaches to investigate the local complex conductivity and the surface charge with Scanning Force Microscopy (SFM) techniques are presented. It is shown that the measurement of local electrical properties with SFM leads to interesting information about the composition of electrically heterogeneous surfaces
Autor*innen: | Heinz SturmORCiD, Wolfgang Stark, V. Bovtun, Eckhard Schulz |
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Persönliche Herausgeber*innen: | Z. Xia |
Dokumenttyp: | Beitrag zu einem Sammelband |
Veröffentlichungsform: | Verlagsliteratur |
Sprache: | Englisch |
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | Proceedings of the 9th International Symposium on Electrets |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 1996 |
Herausgeber (Institution): | Dielectrics and Electrical Insulation Society |
Verlag: | IEEE Service Center |
Verlagsort: | Piscataway, NJ |
Erste Seite: | 223 |
Letzte Seite: | 228 |
Veranstaltung: | 9th International Symposium on Electrets (ISE 9) |
Veranstaltungsort: | Shanghai, China |
Beginndatum der Veranstaltung: | 1996-09-25 |
Enddatum der Veranstaltung: | 1996-09-30 |
DOI: | 10.1109/ISE.1996.578073 |
ISBN: | 0-7803-2695-4 |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access") |
Datum der Freischaltung: | 19.02.2016 |
Referierte Publikation: | Nein |