• Treffer 3 von 16
Zurück zur Trefferliste

Determination of electric properties of heterogeneous systems using the contact and noncontact scanning force microscopy (SFM)

  • With an extended contact and non-contact mode scanning force microscope samples with different heterogeneous electrical properties can be characterized. The contact mode method allows the determination of local electric conductivities of heterogeneous systems at the sample surfaces. An interpretation of this behaviour can be obtained in combination with other SFM modes such as topography, friction and compliance used simultaneously. The non-contact mode SFM allows to get more information about the local surface charge of heterogeneous samples. In this paper two new SFM approaches will be discussed on examples of carbon-fibre reinforced, organic and ceramic materials

Metadaten exportieren

Weitere Dienste

Teilen auf Twitter Suche bei Google Scholar
Metadaten
Autoren/innen:Eckhard Schulz, Heinz Sturm, Wolfgang Stark, V. Bovtun
Persönliche Herausgeber/innen:Z. Xia
Dokumenttyp:Beitrag zu einem Sammelband
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Proceedings of the 9th International Symposium on Electrets
Jahr der Erstveröffentlichung:1996
Herausgeber (Institution):Dielectrics and Electrical Insulation Society
Verlag:IEEE Service Center
Verlagsort:Piscataway, NJ
Erste Seite:334
Letzte Seite:339
Veranstaltung:9th International Symposium on Electrets (ISE 9)
Veranstaltungsort:Shanghai, China
Beginndatum der Veranstaltung:1996-09-25
Enddatum der Veranstaltung:1996-09-30
DOI:https://doi.org/10.1109/ISE.1996.578094
ISBN:0-7803-2695-4
Verfügbarkeit des Dokuments:Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access")
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein