Determination of electric properties of heterogeneous systems using the contact and noncontact scanning force microscopy (SFM)
- With an extended contact and non-contact mode scanning force microscope samples with different heterogeneous electrical properties can be characterized. The contact mode method allows the determination of local electric conductivities of heterogeneous systems at the sample surfaces. An interpretation of this behaviour can be obtained in combination with other SFM modes such as topography, friction and compliance used simultaneously. The non-contact mode SFM allows to get more information about the local surface charge of heterogeneous samples. In this paper two new SFM approaches will be discussed on examples of carbon-fibre reinforced, organic and ceramic materials
Autor*innen: | Eckhard Schulz, Heinz SturmORCiD, Wolfgang Stark, V. Bovtun |
---|---|
Persönliche Herausgeber*innen: | Z. Xia |
Dokumenttyp: | Beitrag zu einem Sammelband |
Veröffentlichungsform: | Verlagsliteratur |
Sprache: | Englisch |
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | Proceedings of the 9th International Symposium on Electrets |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 1996 |
Herausgeber (Institution): | Dielectrics and Electrical Insulation Society |
Verlag: | IEEE Service Center |
Verlagsort: | Piscataway, NJ |
Erste Seite: | 334 |
Letzte Seite: | 339 |
Veranstaltung: | 9th International Symposium on Electrets (ISE 9) |
Veranstaltungsort: | Shanghai, China |
Beginndatum der Veranstaltung: | 1996-09-25 |
Enddatum der Veranstaltung: | 1996-09-30 |
DOI: | 10.1109/ISE.1996.578094 |
ISBN: | 0-7803-2695-4 |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access") |
Datum der Freischaltung: | 19.02.2016 |
Referierte Publikation: | Nein |