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Dynamical simulation of electron backscatter diffraction (EBSD) patterns of imperfect crystals

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Autor*innen:Gert Nolze, Aimo Winkelmann
Dokumenttyp:Zeitschriftenartikel
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Microscopy and microanalysis
Jahr der Erstveröffentlichung:2012
Herausgeber (Institution):Microscopy Society of America
Verlag:Cambridge University Press
Verlagsort:New York, NY
Jahrgang/Band:18
Ausgabe/Heft:Suppl. S2
Erste Seite:1246
Letzte Seite:1247
Freie Schlagwörter:Beugungsmuster-Simulation; EBSD; Kristall; Rasterelektronenmikroskopie; Realstruktur; Rückstreukoeffizient
DOI:10.1017/S1431927612008082
ISSN:1431-9276
ISSN:1435-8115
Verfügbarkeit des Dokuments:Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access")
Bibliotheksstandort:Sonderstandort: Publica-Schrank
Datum der Freischaltung:20.02.2016
Referierte Publikation:Ja
Datum der Eintragung als referierte Publikation:28.03.2013
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