MetadatenAutor*innen: | Gert Nolze, Aimo Winkelmann |
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Dokumenttyp: | Zeitschriftenartikel |
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Veröffentlichungsform: | Verlagsliteratur |
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Sprache: | Englisch |
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Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | Microscopy and microanalysis |
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Jahr der Erstveröffentlichung: | 2012 |
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Herausgeber (Institution): | Microscopy Society of America |
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Verlag: | Cambridge University Press |
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Verlagsort: | New York, NY |
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Jahrgang/Band: | 18 |
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Ausgabe/Heft: | Suppl. S2 |
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Erste Seite: | 1246 |
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Letzte Seite: | 1247 |
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Freie Schlagwörter: | Beugungsmuster-Simulation; EBSD; Kristall; Rasterelektronenmikroskopie; Realstruktur; Rückstreukoeffizient |
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DOI: | 10.1017/S1431927612008082 |
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ISSN: | 1431-9276 |
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ISSN: | 1435-8115 |
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Verfügbarkeit des Dokuments: | Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access") |
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Bibliotheksstandort: | Sonderstandort: Publica-Schrank |
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Datum der Freischaltung: | 20.02.2016 |
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Referierte Publikation: | Ja |
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Datum der Eintragung als referierte Publikation: | 28.03.2013 |
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