MetadatenAutor*innen: | Mathias Senoner, Thomas Wirth, Wolfgang UngerORCiD, Werner ÖsterleORCiD, I. Kaiander, R. L. Sellin, D. Bimberg |
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Persönliche Herausgeber*innen: | G. Wilkening, L. Koenders |
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Dokumenttyp: | Beitrag zu einem Sammelband |
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Veröffentlichungsform: | Verlagsliteratur |
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Sprache: | Englisch |
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Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | Nanoscale calibration standards and methods |
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Jahr der Erstveröffentlichung: | 2004 |
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Verlag: | Wiley-VCH |
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Verlagsort: | Weinheim |
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Erste Seite: | 282 |
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Letzte Seite: | 294 |
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Freie Schlagwörter: | Laterale Auflösung; Nanometrologie; Nanotechnologie; Oberflächenanalytik; Zertifiziertes Referenzmaterial |
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Veranstaltung: | NanoScale 2004 Seminar ; 6th Seminar on Quantitative Microscopy ; 2nd Seminar on Nanoscale Calibration Standards and Methods |
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Veranstaltungsort: | Braunschweig, Germany |
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Beginndatum der Veranstaltung: | 2004-03-25 |
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Enddatum der Veranstaltung: | 2004-03-26 |
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DOI: | 10.1002/3527606661.ch21 |
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ISBN: | 3-527-40502-X |
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Verfügbarkeit des Dokuments: | Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access") |
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Bibliotheksstandort: | Sonderstandort: Publica-Schrank |
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Datum der Freischaltung: | 19.02.2016 |
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Referierte Publikation: | Nein |
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