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Testing the Lateral Resolution in the Nanometre Range with a New Type of Certified Reference Material

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Autor*innen:Mathias Senoner, Thomas Wirth, Wolfgang UngerORCiD, Werner ÖsterleORCiD, I. Kaiander, R. L. Sellin, D. Bimberg
Persönliche Herausgeber*innen:G. Wilkening, L. Koenders
Dokumenttyp:Beitrag zu einem Sammelband
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Nanoscale calibration standards and methods
Jahr der Erstveröffentlichung:2004
Verlag:Wiley-VCH
Verlagsort:Weinheim
Erste Seite:282
Letzte Seite:294
Freie Schlagwörter:Laterale Auflösung; Nanometrologie; Nanotechnologie; Oberflächenanalytik; Zertifiziertes Referenzmaterial
Veranstaltung:NanoScale 2004 Seminar ; 6th Seminar on Quantitative Microscopy ; 2nd Seminar on Nanoscale Calibration Standards and Methods
Veranstaltungsort:Braunschweig, Germany
Beginndatum der Veranstaltung:2004-03-25
Enddatum der Veranstaltung:2004-03-26
DOI:10.1002/3527606661.ch21
ISBN:3-527-40502-X
Verfügbarkeit des Dokuments:Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access")
Bibliotheksstandort:Sonderstandort: Publica-Schrank
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
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