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Bohrer für den Nanometerbereich - Mikrobearbeitung und Gefügedarstellung mit der Technik des fokussierten Ionenstrahls (FIB)

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Metadaten
Autor*innen:Werner ÖsterleORCiD
Dokumenttyp:Zeitschriftenartikel
Veröffentlichungsform:Eigenverlag BAM
Sprache:Deutsch
Titel des übergeordneten Werkes (Deutsch):Materialprüfung = Materials testing
Jahr der Erstveröffentlichung:2004
Herausgeber (Institution):Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung
Verlag:Carl Hanser Verlag
Verlagsort:München
Jahrgang/Band:46
Ausgabe/Heft:3
Erste Seite:113
Letzte Seite:117
Freie Schlagwörter:FIB; Mikrobearbeitung; Nanotechnologie; TEM
DOI:10.3139/120.100573
ISSN:0025-5300
Verfügbarkeit des Dokuments:Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access")
Bibliotheksstandort:Sonderstandort: Publica-Schrank
Bibliotheksstandort:ZM 3
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Ja
Datum der Eintragung als referierte Publikation:29.04.2004
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