Bohrer für den Nanometerbereich - Mikrobearbeitung und Gefügedarstellung mit der Technik des fokussierten Ionenstrahls (FIB)
MetadatenAutor*innen: | Werner ÖsterleORCiD |
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Dokumenttyp: | Zeitschriftenartikel |
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Veröffentlichungsform: | Eigenverlag BAM |
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Sprache: | Deutsch |
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Titel des übergeordneten Werkes (Deutsch): | Materialprüfung = Materials testing |
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Jahr der Erstveröffentlichung: | 2004 |
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Herausgeber (Institution): | Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung |
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Verlag: | Carl Hanser Verlag |
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Verlagsort: | München |
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Jahrgang/Band: | 46 |
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Ausgabe/Heft: | 3 |
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Erste Seite: | 113 |
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Letzte Seite: | 117 |
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Freie Schlagwörter: | FIB; Mikrobearbeitung; Nanotechnologie; TEM |
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DOI: | 10.3139/120.100573 |
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ISSN: | 0025-5300 |
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Verfügbarkeit des Dokuments: | Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access") |
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Bibliotheksstandort: | Sonderstandort: Publica-Schrank |
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Bibliotheksstandort: | ZM 3 |
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Datum der Freischaltung: | 19.02.2016 |
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Referierte Publikation: | Ja |
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Datum der Eintragung als referierte Publikation: | 29.04.2004 |
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