Preparation, transmission electron microscopy, and microanalytical investigations of metal-III-V semiconductor interfaces
Autor*innen: | A. Klein, Ingrid Urban, P. Ressel, E. Nebauer, U. Merkel, Werner ÖsterleORCiD |
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Dokumenttyp: | Zeitschriftenartikel |
Veröffentlichungsform: | Verlagsliteratur |
Sprache: | Englisch |
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | Materials characterization |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 1996 |
Herausgeber (Institution): | International Metallographic Society |
Verlag: | Elsevier |
Verlagsort: | New York, NY |
Jahrgang/Band: | 37 |
Erste Seite: | 143 |
Letzte Seite: | 151 |
ISSN: | 1044-5803 |
ISSN: | 1873-4189 |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access") |
Datum der Freischaltung: | 19.02.2016 |
Referierte Publikation: | Ja |
Datum der Eintragung als referierte Publikation: | 05.06.2003 |