XPS depth profiling of an ultrathin bioorganic film with an argon gas cluster ion beam
- The growing interest in artificial bioorganic Interfaces as a platform for applications in emerging Areas as personalized medicine, clinical diagnostics, biosensing, biofilms, prevention of biofouling, and other fields of bioengineering is the origin of a need for in Detail multitechnique characterizations of such layers and interfaces. The in-depth analysis of biointerfaces is of special interest as the properties of functional bioorganic coatings can be dramatically affected by in-depth variations of composition. In worst cases, the functionality of a device produced using such coatings can be substantially reduced or even fully lost.
Autor*innen: | Paul Dietrich, Carolin Nietzold, Matthias Weise, Wolfgang UngerORCiD, Saad Alnabulsi, John Moulder |
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Dokumenttyp: | Zeitschriftenartikel |
Veröffentlichungsform: | Verlagsliteratur |
Sprache: | Englisch |
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | Biointerphases |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 2016 |
Herausgeber (Institution): | AVS: Science & Technology of Materials, Interfaces, and Processing |
Verlag: | American Vacuum Society |
Verlagsort: | New York |
Jahrgang/Band: | 11 |
Ausgabe/Heft: | 2 |
Erste Seite: | 029603-1 |
Letzte Seite: | 029603-5 |
DDC-Klassifikation: | Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie |
Freie Schlagwörter: | Ar gas cluster gun; Bioorganic film; Depth profiling; XPS |
DOI: | 10.1116/1.4948341 |
URL: | http://scitation.aip.org/content/avs/journal/bip/11/2/10.1116/1.4948341 |
ISSN: | 1934-8630 |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access") |
Datum der Freischaltung: | 25.05.2016 |
Referierte Publikation: | Ja |
Datum der Eintragung als referierte Publikation: | 05.08.2016 |