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A model for the determination of the fatigue life in technical alloys containing large and small defects

  • The determination of the fatigue life in technical alloys containing large and small defects must rely on a propagation model which accounts for short and long crack growth. Recently an analytical model which incorporates propagation in the short crack regime and plastic correction for the crack driving force has been presented by two of the authors. This work is intended to show further validation of the model, taking into account data sets for different materials with different testing conditions. Despite the assumptions about missing parameters, the value of which had to be taken from the literature, the predictions showed a fairly good approximation of the fatigue lives. A possible interpretation of the results in terms of multiple crack initiation and propagation at higher loads is proposed.
Metadaten
Autor*innen:Mauro Madia, Uwe Zerbst, H.T. Beier
Dokumenttyp:Zeitschriftenartikel
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Procedia materials science
Jahr der Erstveröffentlichung:2014
Veröffentlichende Institution:Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)
Verlag:Curran
Verlagsort:Red Hook, NY, USA
Jahrgang/Band:3
Erste Seite:493
Letzte Seite:498
DDC-Klassifikation:Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / Ingenieurwissenschaften / Ingenieurwissenschaften und zugeordnete Tätigkeiten
Freie Schlagwörter:Crack propagation; Fatigue strength; Short cracks
Veranstaltung:EFC20 - 20th European conference on fracture
Veranstaltungsort:Trondheim, Norway
Beginndatum der Veranstaltung:30.06.2014
Enddatum der Veranstaltung:04.07.2014
DOI:10.1016/j.mspro.2014.06.082
URN:urn:nbn:de:kobv:b43-311961
ISSN:2211-8128
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei für die Öffentlichkeit verfügbar ("Open Access")
Lizenz (Deutsch):License LogoCreative Commons - Namensnennung-Nicht kommerziell-Keine Bearbeitung
Datum der Freischaltung:20.02.2016
Referierte Publikation:Nein
Schriftenreihen ohne Nummerierung:Wissenschaftliche Artikel der BAM
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