MetadatenAutor*innen: | U. Schade, L. Puskar, E. Ritter, Jörg Beckmann |
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Dokumenttyp: | Beitrag zu einem Tagungsband |
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Veröffentlichungsform: | Verlagsliteratur |
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Sprache: | Englisch |
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Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | 2020 45th international conference on infrared, millimeter, and terahertz waves (IRMMW-THz) - Proceedings |
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Jahr der Erstveröffentlichung: | 2020 |
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Organisationseinheit der BAM: | 8 Zerstörungsfreie Prüfung |
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| 8 Zerstörungsfreie Prüfung / 8.5 Röntgenbildgebung |
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Verlag: | IEEE |
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Verlagsort: | Buffalo, NY |
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Aufsatznummer: | 9370451 |
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Erste Seite: | 1 |
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DDC-Klassifikation: | Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie |
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Freie Schlagwörter: | Etalon effects; THz radiation; Total transmittance reflection technique |
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Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM: | Chemie und Prozesstechnik |
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Veranstaltung: | 2020 45th International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz Waves (IRMMW-THz) |
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Veranstaltungsort: | Buffalo, NY, USA |
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Beginndatum der Veranstaltung: | 08.11.2020 |
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Enddatum der Veranstaltung: | 13.11.2020 |
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DOI: | 10.1109/IRMMW-THz46771.2020.9370451 |
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ISSN: | 2162-2035 |
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ISSN: | 2162-2027 |
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ISBN: | 978-1-7281-6620-9 |
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Zugehöriger Identifikator: | https://opus4.kobv.de/opus4-bam/frontdoor/index/index/docId/56945 |
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Verfügbarkeit des Dokuments: | Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access") |
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Datum der Freischaltung: | 06.02.2023 |
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Referierte Publikation: | Ja |
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Datum der Eintragung als referierte Publikation: | 06.02.2023 |
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