Imaging the microstructure of duplex stainless steel samples with TOF-SIMS
- Time-of-flight secondary ion mass spectrometry (TOF-SIMS) mappings provide a visualization of the distribution of chemical elements and phases on polished duplex steel surfaces as element and fragment secondary ion signals. The advantage of TOF-SIMS, compared to optical microscopy, is its potential to analyze the chemical composition with a lateral resolution at a submicrometer scale. TOF-SIMS mappings allow distinguishing between ferritic and austenitic phases because of the phase selective detection method without any requirement of etching or other processing.
Autor*innen: | Franka Straub, Thomas Wirth, Andreas HertwigORCiD, Vasile-Dan HodoroabaORCiD, Wolfgang UngerORCiD, Thomas Böllinghaus |
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Dokumenttyp: | Zeitschriftenartikel |
Veröffentlichungsform: | Verlagsliteratur |
Sprache: | Englisch |
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | Surface and interface analysis |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 2010 |
Verlag: | Wiley |
Verlagsort: | Chichester |
Jahrgang/Band: | 42 |
Ausgabe/Heft: | 6-7 |
Erste Seite: | 739 |
Letzte Seite: | 742 |
Freie Schlagwörter: | Austenitic phase; Duplex stainless steel; Ferritic phase; Surface analysis; TOF-SIMS mappings |
DOI: | 10.1002/sia.3385 |
URL: | http://onlinelibrary.wiley.com/doi/10.1002/sia.3385/pdf |
ISSN: | 0142-2421 |
ISSN: | 1096-9918 |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access") |
Bibliotheksstandort: | Sonderstandort: Publica-Schrank |
Datum der Freischaltung: | 19.02.2016 |
Referierte Publikation: | Ja |
Datum der Eintragung als referierte Publikation: | 19.08.2010 |