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Imaging the microstructure of duplex stainless steel samples with TOF-SIMS

  • Time-of-flight secondary ion mass spectrometry (TOF-SIMS) mappings provide a visualization of the distribution of chemical elements and phases on polished duplex steel surfaces as element and fragment secondary ion signals. The advantage of TOF-SIMS, compared to optical microscopy, is its potential to analyze the chemical composition with a lateral resolution at a submicrometer scale. TOF-SIMS mappings allow distinguishing between ferritic and austenitic phases because of the phase selective detection method without any requirement of etching or other processing.

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Autor*innen:Franka Straub, Thomas Wirth, Andreas HertwigORCiD, Vasile-Dan HodoroabaORCiD, Wolfgang UngerORCiD, Thomas Böllinghaus
Dokumenttyp:Zeitschriftenartikel
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Surface and interface analysis
Jahr der Erstveröffentlichung:2010
Verlag:Wiley
Verlagsort:Chichester
Jahrgang/Band:42
Ausgabe/Heft:6-7
Erste Seite:739
Letzte Seite:742
Freie Schlagwörter:Austenitic phase; Duplex stainless steel; Ferritic phase; Surface analysis; TOF-SIMS mappings
DOI:10.1002/sia.3385
URL:http://onlinelibrary.wiley.com/doi/10.1002/sia.3385/pdf
ISSN:0142-2421
ISSN:1096-9918
Verfügbarkeit des Dokuments:Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access")
Bibliotheksstandort:Sonderstandort: Publica-Schrank
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Ja
Datum der Eintragung als referierte Publikation:19.08.2010
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