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ToF-SIMS imaging of DBD-plasma-printed microspots on BOPP substrates

  • Imaging ToF-SIMS has been applied to characterize the surface chemistry variations across small areas produced by a DBD-type plasma printing technique on a BOPP substrate using pure nitrogen and a nitrogen-hydrogen gas mixture. CH4N+ and CNO- secondary ions are detected with high yields remote from the discharge region. They are discussed to be due to surface modifications of the substrate by metastable gas-phase species. On the other hand, surface species exist that are preferentially formed by reactions of the substrate with short-lived species which are only present close to the plasma discharge region. A C3H8O+ secondary fragment ion is assumed to be a key fragment of such a surface species.

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Autor*innen:A. Hinze, C.-P. Klages, A. Zänker, M. Thomas, Thomas Wirth, Wolfgang UngerORCiD
Dokumenttyp:Zeitschriftenartikel
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Plasma processes and polymers
Jahr der Erstveröffentlichung:2008
Verlag:Wiley-VCH Verl.
Verlagsort:Weinheim
Jahrgang/Band:5
Ausgabe/Heft:5
Erste Seite:460
Letzte Seite:470
Freie Schlagwörter:Dielectric barrier discharges (DBD); Plasma; Plasma printing; Polymer; Polymer modification; Surface modification; Time-of-flight secondary-ion mass spectroscopy (ToF-SIMS) imaging; ToF-SIMS
DOI:10.1002/ppap.200700138
ISSN:1612-8850
ISSN:1612-8869
Verfügbarkeit des Dokuments:Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access")
Bibliotheksstandort:Sonderstandort: Publica-Schrank
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Ja
Datum der Eintragung als referierte Publikation:12.05.2009
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