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3D X-ray Imaging and residual stress analysis of materials

  • The focus of the presentation focus will be on 3D imaging by means of X-ray Computed Tomography (XCT) at the lab and at synchrotron, and the non-destructive residual stress (RS) characterization by diffraction of different kind of materials in FB8.5 Micro-NDT BAM. For instance, the manufacturing defects and high RS are inherent of additively manufacturing techniques and affect structural integrity of the components. Using XCT the defects size and shape distribution as well as geometrical deviations can be characterized, allowing the further optimization of the manufacturing process. Diffraction-based RS analysis methods using neutron and synchrotron X-rays at large scale facilities offer the possibility to non-destructively spatially resolve both surface and bulk RS in complex components and track their changes following applied thermal or mechanical loads.

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Metadaten
Autor*innen:Tatiana Mishurova
Dokumenttyp:Vortrag
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Englisch
Jahr der Erstveröffentlichung:2023
Organisationseinheit der BAM:8 Zerstörungsfreie Prüfung
8 Zerstörungsfreie Prüfung / 8.5 Röntgenbildgebung
DDC-Klassifikation:Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie
Freie Schlagwörter:Additive manufacturing; Residual stress; X-ray computed tomography
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM:Chemie und Prozesstechnik
Veranstaltung:Seminar at Applied Materials Group at PSI
Veranstaltungsort:Villigen, Switzerland
Beginndatum der Veranstaltung:13.09.2023
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")
Datum der Freischaltung:19.09.2023
Referierte Publikation:Nein
Eingeladener Vortrag:Nein
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