• Treffer 2 von 86
Zurück zur Trefferliste

Multiscale residual stress analysis and synchrotron X-ray refraction of additively manufactured parts

  • The overview of the activity of group 8.5 Micro-NDT (BAM, Belin, Germany) in the field of additively manufacturing material characterization will be presented. The challenges in the residual stress analysis of AM components are discussed on the basis on the show studies performed in BAM. Also, the synchrotron X-ray refraction technique, available in BAM, is presented, showing example of in-situ heating test of Al10SiMg AM material.

Volltext Dateien herunterladen

  • SiMAP_FB85_2.pdf
    eng

Metadaten exportieren

Weitere Dienste

Teilen auf Twitter Suche bei Google Scholar Anzahl der Zugriffe auf dieses Dokument
Metadaten
Autor*innen:Tatiana MishurovaORCiD, Itziar Serrano MunozORCiD
Dokumenttyp:Vortrag
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Englisch
Jahr der Erstveröffentlichung:2022
Organisationseinheit der BAM:8 Zerstörungsfreie Prüfung
8 Zerstörungsfreie Prüfung / 8.5 Röntgenbildgebung
DDC-Klassifikation:Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie
Technik, Medizin, angewandte Wissenschaften / Ingenieurwissenschaften / Ingenieurwissenschaften und zugeordnete Tätigkeiten
Freie Schlagwörter:Additive manufacturing; Computed tomography; Residual stress; X-ray refraction
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM:Chemie und Prozesstechnik
Material
Material / Additive Fertigung
Veranstaltung:Seminar at Grenoble INP, Science et Ingénierie des Matériaux et Procédés (SIMaP)
Veranstaltungsort:Grenoble, France
Beginndatum der Veranstaltung:01.07.2022
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")
Datum der Freischaltung:11.07.2022
Referierte Publikation:Nein
Eingeladener Vortrag:Nein
Einverstanden
Diese Webseite verwendet technisch erforderliche Session-Cookies. Durch die weitere Nutzung der Webseite stimmen Sie diesem zu. Unsere Datenschutzerklärung finden Sie hier.