MetadatenAutor*innen: | Wolfgang Paatsch, Uwe Beck, Mathias Senoner |
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Dokumenttyp: | Beitrag zu einem Sammelband |
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Veröffentlichungsform: | Verlagsliteratur |
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Sprache: | Deutsch |
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Titel des übergeordneten Werkes (Deutsch): | Oberflächentage 2004 |
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Jahr der Erstveröffentlichung: | 2004 |
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Herausgeber (Institution): | Deutsche Gesellschaft für Galvano- und Oberflächentechnik |
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Verlag: | DGO |
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Verlagsort: | [Hilden] |
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Erste Seite: | 263 |
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Letzte Seite: | 266 |
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Freie Schlagwörter: | Laterale Auflösung; Nanometrologie; Nanotechnologie; Oberflächenanalytik; Zertifiziertes Referenzmaterial |
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Veranstaltung: | Oberflächentage 2004 ; 42. Jahrestagung. Deutsche Gesellschaft für Galvano- und Oberflächentechnik |
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Veranstaltungsort: | Dresden, Deutschland |
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Beginndatum der Veranstaltung: | 2004-09-22 |
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Enddatum der Veranstaltung: | 2004-09-24 |
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ISBN: | 3-9806061-2-0 |
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Verfügbarkeit des Dokuments: | Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access") |
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Bibliotheksstandort: | Sonderstandort: Publica-Schrank |
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Datum der Freischaltung: | 19.02.2016 |
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Referierte Publikation: | Nein |
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