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Entwicklung von Referenzmaterialien für die Oberflächentechnik im Mikrometer- und Nanometerbereich

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Autor*innen:Wolfgang Paatsch, Uwe Beck, Mathias Senoner
Dokumenttyp:Beitrag zu einem Sammelband
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Deutsch
Titel des übergeordneten Werkes (Deutsch):Oberflächentage 2004
Jahr der Erstveröffentlichung:2004
Herausgeber (Institution):Deutsche Gesellschaft für Galvano- und Oberflächentechnik
Verlag:DGO
Verlagsort:[Hilden]
Erste Seite:263
Letzte Seite:266
Freie Schlagwörter:Laterale Auflösung; Nanometrologie; Nanotechnologie; Oberflächenanalytik; Zertifiziertes Referenzmaterial
Veranstaltung:Oberflächentage 2004 ; 42. Jahrestagung. Deutsche Gesellschaft für Galvano- und Oberflächentechnik
Veranstaltungsort:Dresden, Deutschland
Beginndatum der Veranstaltung:2004-09-22
Enddatum der Veranstaltung:2004-09-24
ISBN:3-9806061-2-0
Verfügbarkeit des Dokuments:Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access")
Bibliotheksstandort:Sonderstandort: Publica-Schrank
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
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