NEW INVESTIGATIONS WITH NANOGRAM MULTI-ELEMENT REFERENCE SAMPLES FOR XRF AND TXRF ANALYSIS
Autor*innen: | Martin RadtkeORCiD |
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Koautor*innen: | M. Krämer, R. Dietsch, G. Falkenberg, B. Beckhoff, P. Hönicke, U.E.A. Fittschen, R. Simon |
Dokumenttyp: | Posterpräsentation |
Veröffentlichungsform: | Präsentation |
Sprache: | Deutsch |
Titel des übergeordneten Werkes (Deutsch): | Denver X-Ray Conference |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 2013 |
Veranstaltung: | Denver X-Ray Conference |
Veranstaltungsort: | Westminster, CO, USA |
Beginndatum der Veranstaltung: | 2013-08-05 |
Enddatum der Veranstaltung: | 2013-08-09 |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access") |
Datum der Freischaltung: | 20.02.2016 |
Referierte Publikation: | Nein |