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NEW INVESTIGATIONS WITH NANOGRAM MULTI-ELEMENT REFERENCE SAMPLES FOR XRF AND TXRF ANALYSIS

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Autor*innen:Martin RadtkeORCiD
Koautor*innen:M. Krämer, R. Dietsch, G. Falkenberg, B. Beckhoff, P. Hönicke, U.E.A. Fittschen, R. Simon
Dokumenttyp:Posterpräsentation
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Deutsch
Titel des übergeordneten Werkes (Deutsch):Denver X-Ray Conference
Jahr der Erstveröffentlichung:2013
Veranstaltung:Denver X-Ray Conference
Veranstaltungsort:Westminster, CO, USA
Beginndatum der Veranstaltung:2013-08-05
Enddatum der Veranstaltung:2013-08-09
Verfügbarkeit des Dokuments:Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access")
Datum der Freischaltung:20.02.2016
Referierte Publikation:Nein
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