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Advanced SEM/EDS analysis using an annular silicon drift detector (SDD): Applications in nano, life, earth and planetary sciences below micrometer scale

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Autor*innen:T. Salge, R. Terborg, A. D. Ball, G.R. Broad, A.T. Kearsley, C.G. Jones, C. Smith, Steffi Rades, Vasile-Dan HodoroabaORCiD
Persönliche Herausgeber*innen:P. Hozak
Dokumenttyp:Beitrag zu einem Tagungsband
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):IMC 2014 - 18th International microscopy congress (Proceedings)
Jahr der Erstveröffentlichung:2014
Erste Seite:IT-5-P-1842, 1-2
Veranstaltung:IMC 2014 - 18th International microscopy congress
Veranstaltungsort:Prague, Czech Republic
Beginndatum der Veranstaltung:2014-09-07
Enddatum der Veranstaltung:2014-09-12
ISBN:978-80-260-6720-7
Verfügbarkeit des Dokuments:Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access")
Bibliotheksstandort:Sonderstandort: Publica-Schrank
Datum der Freischaltung:20.02.2016
Referierte Publikation:Nein
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