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Qualifying PDMS deposited on silicon wafer surfaces as calibration standard for organic matter by X-ray spectrometry and XPS

  • Polydimethylsiloxane (PDMS)is one of the most appearing contamination of medical devices.Dedicated analysis of PDMS on surfaces necessary, but the lack of calibration samples provides a bottle neck. There is a demand for metrological tools ensuring traceable and reliable analysis of mass deposition and of the chemical species of contaminants. Photoelectron spectroscopy (PES) and reference-free GIXRF can be used to qualify bench top instrumentation. Comparison of PES data and GIXRF data enable the establishment of a traceability chain.

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  • PDMS_Analysis_final_EXRS2016.pdf
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Autor*innen:B. Pollakowski
Koautor*innen:Gerald Holzlechner, Andreas Lippitz, B. Beckhoff, Wolfgang UngerORCiD
Dokumenttyp:Vortrag
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Englisch
Jahr der Erstveröffentlichung:2016
DDC-Klassifikation:Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie
Freie Schlagwörter:GIXRF; Silicone analysis; XPS
Veranstaltung:EXRS 2016, European Conference on X - ray Spectrometry
Veranstaltungsort:Gothenburg, Sweden
Beginndatum der Veranstaltung:19.06.2016
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")
Datum der Freischaltung:08.09.2016
Referierte Publikation:Nein
Eingeladener Vortrag:Nein
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