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Surface analytical investigations (XPS, NEXAFS and ToF-SIMS) of carbohydrate-functionalized surfaces

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Autor*innen:Paul Dietrich
Koautor*innen:Thomas Gross, T. Horlacher, Pierre-Luc Girard-Lauriault, Andreas Lippitz, Hyegeun Min, Thomas Wirth, R. Castelli, P.H. Seeberger, Wolfgang Unger
Dokumenttyp:Posterpräsentation
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Deutsch
Titel des übergeordneten Werkes (Deutsch):SIMS XVIII, 18th International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry
Jahr der Erstveröffentlichung:2011
Veranstaltung:SIMS XVIII, 18th International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry
Veranstaltungsort:Trento, Italy
Beginndatum der Veranstaltung:2011-09-18
Enddatum der Veranstaltung:2011-09-23
Verfügbarkeit des Dokuments:Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access")
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
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