MetadatenAutor*innen: | Martin Ritter, Matthias Hemmleb, H. Hohenberg |
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Persönliche Herausgeber*innen: | T. Luhmann |
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Dokumenttyp: | Beitrag zu einem Sammelband |
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Veröffentlichungsform: | Verlagsliteratur |
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Sprache: | Deutsch |
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Titel des übergeordneten Werkes (Deutsch): | Photogrammetrie - Laserscanning - optische 3D-Messtechnik |
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Jahr der Erstveröffentlichung: | 2005 |
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Herausgeber (Institution): | Institut für Angewandte Photogrammetrie und Geoinformatik, Oldenburg |
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Verlag: | Wichmann |
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Verlagsort: | Heidelberg |
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Jahrgang/Band: | 4 |
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Erste Seite: | 66 |
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Letzte Seite: | 73 |
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Freie Schlagwörter: | 3D-Mikroskopie; AFM; CLSM; Kalibrierung; SEM |
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Veranstaltung: | 4. Oldenburger 3D-Tage |
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Veranstaltungsort: | Oldenburg, Deutschland |
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Beginndatum der Veranstaltung: | 2005-02-02 |
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Enddatum der Veranstaltung: | 2005-02-03 |
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URL: | http://www.m2c-calibration.com/veroeff/O3D2005_Ritter.pdf |
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ISBN: | 3-87907-420-8 |
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Verfügbarkeit des Dokuments: | Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access") |
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Bibliotheksstandort: | Sonderstandort: Publica-Schrank |
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Datum der Freischaltung: | 19.02.2016 |
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Referierte Publikation: | Nein |
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