Time-resolved analysis of catastrophic optical damage in 975 nm emitting diode lasers
- Catastrophic optical damage (COD) is analyzed during single current pulse excitation of 975 nm emitting diode lasers. Power transients and thermal images are monitored during each pulse. The COD process is unambiguously related to the occurrence of a thermal flash of Plancks radiation. We observe COD to ignite multiple times in subsequent pulses. Thermography allows for tracing a spatial motion of the COD site on the front facet of the devices. The time constant of power decay after the onset of COD has values from 400 to 2000 ns, i.e., an order of magnitude longer than observed for shorter-wavelength devices.
Autor*innen: | M. Hempel, Mathias ZieglerORCiD, J.W. Tomm, T. Elsaesser, N. Michel, M. Krakowski |
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Dokumenttyp: | Zeitschriftenartikel |
Veröffentlichungsform: | Verlagsliteratur |
Sprache: | Englisch |
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | Applied physics letters |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 2010 |
Verlag: | American Institute of Physics |
Verlagsort: | Melville, NY |
Jahrgang/Band: | 96 |
Ausgabe/Heft: | 251105 |
Erste Seite: | 1 |
Letzte Seite: | 3 |
Freie Schlagwörter: | Catastrophic optical damage; High-power diode lasers; Semiconductor laser; Thermography |
DOI: | 10.1063/1.3456388 |
ISSN: | 0003-6951 |
ISSN: | 1077-3118 |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access") |
Bibliotheksstandort: | Sonderstandort: Publica-Schrank |
Datum der Freischaltung: | 19.02.2016 |
Referierte Publikation: | Ja |
Datum der Eintragung als referierte Publikation: | 15.07.2010 |