• Treffer 6 von 73
Zurück zur Trefferliste

A reference material for calibration and testing of instruments with nanometric lateral resolution

Metadaten exportieren

Weitere Dienste

Teilen auf Twitter Suche bei Google Scholar Anzahl der Zugriffe auf dieses Dokument
Metadaten
Autor*innen:Mathias Senoner
Koautor*innen:Thomas Wirth, Wolfgang Unger
Dokumenttyp:Vortrag
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):SIMS Europe 2002
Jahr der Erstveröffentlichung:2002
Veranstaltung:SIMS Europe 2002
Veranstaltungsort:Münster, Germany
Beginndatum der Veranstaltung:2002-09-15
Enddatum der Veranstaltung:2002-09-17
Verfügbarkeit des Dokuments:Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access")
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
Eingeladener Vortrag:Nein
Einverstanden
Diese Webseite verwendet technisch erforderliche Session-Cookies. Durch die weitere Nutzung der Webseite stimmen Sie diesem zu. Unsere Datenschutzerklärung finden Sie hier.