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A new material for the performance check of X-ray spectrometers attached to a SEM

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Autor*innen:Mathias ProcopORCiD
Koautor*innen:Vasile-Dan HodoroabaORCiD, Michael Griepentrog
Dokumenttyp:Posterpräsentation
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Microscopy and Microanalysis 2006
Jahr der Erstveröffentlichung:2006
Veranstaltung:Microscopy and Microanalysis 2006
Veranstaltungsort:Chicago, IL, USA
Beginndatum der Veranstaltung:2006-07-30
Enddatum der Veranstaltung:2006-08-03
Verfügbarkeit des Dokuments:Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access")
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
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