Abschätzung der Dicke absorbierender Schichten eines EDX-Detektorsystems mit Hilfe von Bremsstrahlungsspektren
MetadatenAutor*innen: | Mathias ProcopORCiD |
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Dokumenttyp: | Zeitschriftenartikel |
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Veröffentlichungsform: | Verlagsliteratur |
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Sprache: | Deutsch |
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Titel des übergeordneten Werkes (Deutsch): | Beiträge zur elektronenmikroskopischen Direktabbildung und Analyse von Oberflächen |
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Jahr der Erstveröffentlichung: | 1996 |
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Verlag: | Ehrenwerth |
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Verlagsort: | Münster, Westf. |
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Jahrgang/Band: | 29 |
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Erste Seite: | 47 |
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Letzte Seite: | 50 |
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Freie Schlagwörter: | Bremsstrahlungspektrum; EDX-Detektor; Oberflächenanalyse; Schichtdickenmessung; Si(Li) detector; X-ray detector; X-ray spectrometry |
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Veranstaltung: | 29. Kolloquium des Arbeitskreises für Elektronenmikroskopische Direktabbildung und Analyse von Oberflächen (EDO) |
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Veranstaltungsort: | Münster, Deutschland |
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Beginndatum der Veranstaltung: | 1996-10-08 |
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Enddatum der Veranstaltung: | 1996-10-11 |
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ISSN: | 0340-3815 |
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Verfügbarkeit des Dokuments: | Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access") |
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Bibliotheksstandort: | Sonderstandort: Publica-Schrank |
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Datum der Freischaltung: | 19.02.2016 |
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Referierte Publikation: | Nein |
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