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Abschätzung der Dicke absorbierender Schichten eines EDX-Detektorsystems mit Hilfe von Bremsstrahlungsspektren

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Autor*innen:Mathias ProcopORCiD
Dokumenttyp:Zeitschriftenartikel
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Deutsch
Titel des übergeordneten Werkes (Deutsch):Beiträge zur elektronenmikroskopischen Direktabbildung und Analyse von Oberflächen
Jahr der Erstveröffentlichung:1996
Verlag:Ehrenwerth
Verlagsort:Münster, Westf.
Jahrgang/Band:29
Erste Seite:47
Letzte Seite:50
Freie Schlagwörter:Bremsstrahlungspektrum; EDX-Detektor; Oberflächenanalyse; Schichtdickenmessung; Si(Li) detector; X-ray detector; X-ray spectrometry
Veranstaltung:29. Kolloquium des Arbeitskreises für Elektronenmikroskopische Direktabbildung und Analyse von Oberflächen (EDO)
Veranstaltungsort:Münster, Deutschland
Beginndatum der Veranstaltung:1996-10-08
Enddatum der Veranstaltung:1996-10-11
ISSN:0340-3815
Verfügbarkeit des Dokuments:Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access")
Bibliotheksstandort:Sonderstandort: Publica-Schrank
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
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