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Schichtdickenbestimmung für Nanometer-Kalibriernormale mittels XRF

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Autor*innen:Mathias ProcopORCiD
Dokumenttyp:Vortrag
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Deutsch
Titel des übergeordneten Werkes (Deutsch):2. Seminar zur Nutzung des Wellenlängenschieber-Messplatzes bei BESSY II
Jahr der Erstveröffentlichung:2001
Veranstaltung:2. Seminar zur Nutzung des Wellenlängenschieber-Messplatzes bei BESSY II
Veranstaltungsort:Berlin, Germany
Beginndatum der Veranstaltung:2001-11-08
Enddatum der Veranstaltung:2001-11-09
Verfügbarkeit des Dokuments:Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access")
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
Eingeladener Vortrag:Nein
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