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BAM-L200: Anew type of refrence material for the determination of lateral resolution and the calibration of length scale

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Autor*innen:Markus Holzweber
Koautor*innen:Mathias Senoner, Wolfgang Unger, F. Kollmer
Dokumenttyp:Posterpräsentation
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Deutsch
Titel des übergeordneten Werkes (Deutsch):Fachtagung Nano-Additive
Jahr der Erstveröffentlichung:2012
Veranstaltung:Fachtagung Nano-Additive
Veranstaltungsort:Berlin, Germany
Beginndatum der Veranstaltung:2012-11-19
Enddatum der Veranstaltung:2012-11-20
Verfügbarkeit des Dokuments:Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access")
Datum der Freischaltung:20.02.2016
Referierte Publikation:Nein
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