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Quantitative biocide profile measurements by calibrated XPS

  • This presentation provides an update on recent results from quantitative XPS-measurements of real and artificial biofilms. NAP-XPS, lab-based XPS and synchrotron-based XPS was used to obtain a vertical concentration profile of iodine in agarose-films with information depth ranging from 1 to 18 nm.

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Metadaten
Autor*innen:Marit Kjaervik
Dokumenttyp:Vortrag
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Englisch
Jahr der Erstveröffentlichung:2019
Organisationseinheit der BAM:6 Materialchemie
6 Materialchemie / 6.1 Oberflächen- und Dünnschichtanalyse
DDC-Klassifikation:Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie
Freie Schlagwörter:Agarose; Biofilms; Iodine; NAP-XPS; XPS
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM:Chemie und Prozesstechnik
Veranstaltung:Project meeting MetVBadBugs
Veranstaltungsort:Turin, Italy
Beginndatum der Veranstaltung:05.02.2019
Enddatum der Veranstaltung:06.02.2019
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")
Datum der Freischaltung:07.02.2019
Referierte Publikation:Nein
Eingeladener Vortrag:Nein
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