Quantitative biocide profile measurements by calibrated XPS
- This presentation provides an update on recent results from quantitative XPS-measurements of real and artificial biofilms. NAP-XPS, lab-based XPS and synchrotron-based XPS was used to obtain a vertical concentration profile of iodine in agarose-films with information depth ranging from 1 to 18 nm.
Autor*innen: | Marit Kjaervik |
---|---|
Dokumenttyp: | Vortrag |
Veröffentlichungsform: | Präsentation |
Sprache: | Englisch |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 2019 |
Organisationseinheit der BAM: | 6 Materialchemie |
6 Materialchemie / 6.1 Oberflächen- und Dünnschichtanalyse | |
DDC-Klassifikation: | Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie |
Freie Schlagwörter: | Agarose; Biofilms; Iodine; NAP-XPS; XPS |
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM: | Chemie und Prozesstechnik |
Veranstaltung: | Project meeting MetVBadBugs |
Veranstaltungsort: | Turin, Italy |
Beginndatum der Veranstaltung: | 05.02.2019 |
Enddatum der Veranstaltung: | 06.02.2019 |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access") |
Datum der Freischaltung: | 07.02.2019 |
Referierte Publikation: | Nein |
Eingeladener Vortrag: | Nein |