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Characterization of specific surfaces by X-Ray Refraction Topography

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Metadaten
Autor*innen:Manfred P. Hentschel
Koautor*innen:Karl-Wolfram Harbich
Dokumenttyp:Posterpräsentation
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Workshop "Nano Security 2005", MPI für Mikrostruktur-Physik
Jahr der Erstveröffentlichung:2005
Veranstaltung:Workshop "Nano Security 2005", MPI für Mikrostruktur-Physik
Veranstaltungsort:Halle (Saale), Germany
Beginndatum der Veranstaltung:2005-10-24
Enddatum der Veranstaltung:2005-10-25
Verfügbarkeit des Dokuments:Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access")
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
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