Characterization of specific surfaces by X-Ray Refraction Topography
MetadatenAutor*innen: | Manfred P. Hentschel |
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Koautor*innen: | Karl-Wolfram Harbich |
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Dokumenttyp: | Posterpräsentation |
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Veröffentlichungsform: | Präsentation |
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Sprache: | Englisch |
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Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | Workshop "Nano Security 2005", MPI für Mikrostruktur-Physik |
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Jahr der Erstveröffentlichung: | 2005 |
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Veranstaltung: | Workshop "Nano Security 2005", MPI für Mikrostruktur-Physik |
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Veranstaltungsort: | Halle (Saale), Germany |
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Beginndatum der Veranstaltung: | 2005-10-24 |
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Enddatum der Veranstaltung: | 2005-10-25 |
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Verfügbarkeit des Dokuments: | Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access") |
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Datum der Freischaltung: | 19.02.2016 |
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Referierte Publikation: | Nein |
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