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Sichere Automobil Elektronik durch nanogenaues Synchrotron-Prüfverfahren

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Autor*innen:Bernd R. MüllerORCiD, Michael Harwardt, Manfred P. Hentschel, Axel Lange, P. Alpern, R. Tilgner
Dokumenttyp:Beitrag zu einem Tagungsband
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Deutsch
Titel des übergeordneten Werkes (Deutsch):ZfP in Forschung, Entwicklung und Anwendung - Jahrestagung 2007
Jahr der Erstveröffentlichung:2007
Herausgeber (Institution):Deutsche Gesellschaft für zerstörungsfreie Prüfung
Verlag:DGZfP
Verlagsort:Berlin
Erste Seite:1
Letzte Seite:8
Freie Schlagwörter:Synchrotron Laue Contrast Radiography
Veranstaltung:DGZfP Jahrestagung 2007
Veranstaltungsort:Fürth, Deutschland
Beginndatum der Veranstaltung:2007-05-14
Enddatum der Veranstaltung:2007-05-16
ISBN:978-3-931381-98-1
Verfügbarkeit des Dokuments:Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access")
Bibliotheksstandort:Sonderstandort: Publica-Schrank
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
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