MetadatenAutor*innen: | P. Ressel, P.H. Hao, M.H. Park, Z. C. Yang, L.C. Wang, Werner ÖsterleORCiD, P. Kurpas, E. Richter, E. Kuphal, H.L. Hartnagel |
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Dokumenttyp: | Zeitschriftenartikel |
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Veröffentlichungsform: | Verlagsliteratur |
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Sprache: | Englisch |
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Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | Journal of electronic materials |
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Jahr der Erstveröffentlichung: | 2000 |
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Herausgeber (Institution): | Metallurgical Society |
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Verlag: | TMS |
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Verlagsort: | Warrendale, Pa. |
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Jahrgang/Band: | 29 |
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Ausgabe/Heft: | 7 |
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Erste Seite: | 964 |
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Letzte Seite: | 972 |
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Freie Schlagwörter: | Backside secondary ion mass spectrometry (SIMS); InP/InGaAs heterojunction bipolar transistor; Indium gallium arsenide; Ohmic contacts; Pd/Ge contacts; Pd/Sb contacts; Solid-phase regrowth |
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DOI: | 10.1007/s11664-000-0189-y |
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ISSN: | 0361-5235 |
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ISSN: | 1543-186X |
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Verfügbarkeit des Dokuments: | Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access") |
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Bibliotheksstandort: | Sonderstandort: Publica-Schrank |
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Datum der Freischaltung: | 19.02.2016 |
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Referierte Publikation: | Ja |
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Datum der Eintragung als referierte Publikation: | 04.07.2005 |
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