Catastrophic optical damage at front and rear facets of diode lasers
- Single-pulse tests of the catastrophic optical damage (COD) are performed for three batches of diode lasers with different gain-regions. The tests involve in situ inspection of front, rear, and side of the devices by a thermocamera. Devices with an Al-containing gain-region show COD at the front facet, as expected for strong facet heating via surface recombination and reabsorption of laser light. In contrast, Al-free devices with low surface recombination rates tend to fail at the rear facet, pointing to a different heating scenario. The high carrier density at the rear facet favors heating and COD via Auger recombination processes.
Autor*innen: | M. Hempel, J.W. Tomm, Mathias ZieglerORCiD, T. Elsaesser, N. Michel, M. Krakowski |
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Dokumenttyp: | Zeitschriftenartikel |
Veröffentlichungsform: | Verlagsliteratur |
Sprache: | Englisch |
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | Applied physics letters |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 2010 |
Verlag: | American Institute of Physics |
Verlagsort: | Melville, NY |
Jahrgang/Band: | 97 |
Ausgabe/Heft: | 23 |
Erste Seite: | 231101-1 - 231101-3 |
Freie Schlagwörter: | Auger effect; Carrier density; Catastrophic optical damage; Destructive testing; Heating; High power diode lasers; Laser beam effects; Non-destructive testing; Optical testing; Semiconductor lasers; Surface recombination; Thermography |
DOI: | 10.1063/1.3524235 |
ISSN: | 0003-6951 |
ISSN: | 1077-3118 |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access") |
Bibliotheksstandort: | Sonderstandort: Publica-Schrank |
Datum der Freischaltung: | 19.02.2016 |
Referierte Publikation: | Ja |
Datum der Eintragung als referierte Publikation: | 16.12.2010 |