New application for the calibration of scanning probe microscopy piezos
Autor*innen: | M. Heyde, Heinz SturmORCiD, K. Rademann |
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Dokumenttyp: | Zeitschriftenartikel |
Veröffentlichungsform: | Verlagsliteratur |
Sprache: | Englisch |
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | Surface and interface analysis |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 1999 |
Verlag: | Wiley |
Verlagsort: | Chichester |
Jahrgang/Band: | 27 |
Ausgabe/Heft: | 5-6 |
Erste Seite: | 291 |
Letzte Seite: | 295 |
Freie Schlagwörter: | Calibration; Force-Microscopy; Height Calibration; Piezoelectric translator; Scanning probe microscope |
ISSN: | 0142-2421 |
ISSN: | 1096-9918 |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access") |
Datum der Freischaltung: | 19.02.2016 |
Referierte Publikation: | Ja |
Datum der Eintragung als referierte Publikation: | 07.02.2005 |