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Ultrafast lattice response of photoexcited thin films studied by X-ray diffraction

  • Using ultrafast X-ray diffraction, we study the coherent picosecond lattice dynamics of photoexcited thin films in the two limiting cases, where the photoinduced stress profile decays on a length scale larger and smaller than the film thickness. We solve a unifying analytical model of the strain propagation for acoustic impedance-matched opaque films on a semi-infinite transparent substrate, showing that the lattice dynamics essentially depend on two parameters: One for the spatial profile and one for the amplitude of the strain. We illustrate the results by comparison with high-quality ultrafast X-ray diffraction data of SrRuO3 films on SrTiO3 substrates.

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Autor*innen:D. Schick, M. Herzog, A. Bojahr, W. Leitenberger, Andreas HertwigORCiD, R. Shayduk, M. Bargheer
Dokumenttyp:Zeitschriftenartikel
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Structural dynamics
Jahr der Erstveröffentlichung:2014
Veröffentlichende Institution:Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)
Verlag:AIP Publishing LLC
Verlagsort:Melville, NY
Jahrgang/Band:1
Ausgabe/Heft:6
Erste Seite:064501-1 - 064501-13
DDC-Klassifikation:Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie
Freie Schlagwörter:Dünnschichttechnik; Ellipsometrie; Festkörperphysik; Optische Konstanten; Röntgenbeugung
DOI:10.1063/1.4901228
URN:urn:nbn:de:kobv:b43-322471
ISSN:2329-7778
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei für die Öffentlichkeit verfügbar ("Open Access")
Lizenz (Deutsch):License LogoCreative Commons - Namensnennung
Datum der Freischaltung:20.02.2016
Referierte Publikation:Nein
Schriftenreihen ohne Nummerierung:Wissenschaftliche Artikel der BAM
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