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Improved spatial resolution of EDX/SEM for the elemental analysis of nanoparticles

  • The interest in nanoparticles remains at a high level in fundamental research since many years and increasingly, nanoparticles are incorporated into consumer products to enhance their performance. Consequently, the accurate and rapid characterization of nanoparticles is more and more demanded. Electron microscopy (SEM, TSEM and TEM) is one of the few techniques which are able to image individual nanoparticles. It was demonstrated recently that the transmission electron microscopy at a SEM can successfully be applied as a standard method to characterize accurately the size (distribution) and shape of nanoparticles down to less than 10 nm.

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Autor*innen:Johannes Mielke, Steffi Rades, Erik Ortel, T. Salge, Vasile-Dan HodoroabaORCiD
Dokumenttyp:Zeitschriftenartikel
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Microscopy and microanalysis
Jahr der Erstveröffentlichung:2015
Herausgeber (Institution):Microscopy Society of America
Verlag:Cambridge University Press
Verlagsort:New York, NY
Jahrgang/Band:21
Ausgabe/Heft:Suppl. 3
Erste Seite:Paper 0855, 1713
Letzte Seite:1714
DOI:10.1017/S1431927615009344
ISSN:1431-9276
ISSN:1435-8115
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")
Datum der Freischaltung:20.02.2016
Referierte Publikation:Ja
Datum der Eintragung als referierte Publikation:23.11.2015
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