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Wavefield inversion in nondestructive testing

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Autor*innen:K. J. Langenberg, R. Marklein, K. Mayer, T. Krylow, P. Ampha, Doreen Streicher, Martin KrauseORCiD
Persönliche Herausgeber*innen:I. M. Pinto
Dokumenttyp:Beitrag zu einem Sammelband
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Electromagnetics in a complex world
Jahr der Erstveröffentlichung:2003
Verlag:Springer
Verlagsort:Berlin
Ausgabe/Heft:96
Erste Seite:1
Letzte Seite:10(?)
Veranstaltung:Workshop/Minisymposium on "Electromagnetics in a Complex World: Challenges and Perspectives"
Veranstaltungsort:Benevento, Italy
Beginndatum der Veranstaltung:2003-02-20
Enddatum der Veranstaltung:2003-02-21
ISSN:0930-8989
ISBN:3-540-20235-8
Bemerkung:
Serientitel: Springer proceedings in physics – Series title: Springer proceedings in physics
Verfügbarkeit des Dokuments:Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access")
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
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