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Real structures and structural modifications of Ag2+xSe thin films

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Autor*innen:L. Kienle, V. Duppel, B. Mogwitz, C. Korte, Marc Kreutzbruck, J. Janek
Dokumenttyp:Zeitschriftenartikel
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Microscopy and microanalysis
Jahr der Erstveröffentlichung:2007
Herausgeber (Institution):Microscopy Society of America
Verlag:Cambridge University Press
Verlagsort:New York, NY
Jahrgang/Band:13
Ausgabe/Heft:Suppl 3
Erste Seite:402
Letzte Seite:403
Freie Schlagwörter:Ag clusters; LT; MR
DOI:10.1017/S1431927607082013
ISSN:1431-9276
ISSN:1435-8115
Verfügbarkeit des Dokuments:Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access")
Bibliotheksstandort:Sonderstandort: Publica-Schrank
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Ja
Datum der Eintragung als referierte Publikation:16.04.2009
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