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Surface Analysis by XPS and XAS Using a High-Rsolution and High-Flux Soft X-ray from Synchrotron

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Autor*innen:N. Matsubayashi, M. Imamura, T. Tanaka, H. Shimada, Iris Retzko, Wolfgang UngerORCiD
Dokumenttyp:Beitrag zu einem Tagungsband
Veröffentlichungsform:Graue Literatur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):AIST-BAM Symposium on Materials Surface Technology in Twin Institute Programme
Jahr der Erstveröffentlichung:2003
Herausgeber (Institution):BAM
Erste Seite:67
Letzte Seite:69
Freie Schlagwörter:DLC; Synchrotron Radiation; XAS; XPS
Veranstaltung:AIST-BAM Symposium on Materials Surface Technology in Twin Institute Programme
Veranstaltungsort:Tsukuba, Japan
Beginndatum der Veranstaltung:2003-02-18
Verfügbarkeit des Dokuments:Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access")
Bibliotheksstandort:Sonderstandort: Publica-Schrank
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
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