TEM Characterization of the Interface Quality of MOVPE Grown Strained InGaAs/GaAs Heterostructures
Autor*innen: | A. Höpner, H. Seitz, I. Rechenberg, C. Bugge, Mathias ProcopORCiD, E. Scheerschmidt, A. Queisser |
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Dokumenttyp: | Zeitschriftenartikel |
Veröffentlichungsform: | Verlagsliteratur |
Sprache: | Englisch |
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | Physica status solidi A |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 1995 |
Verlag: | Wiley-VCH |
Verlagsort: | Berlin |
Jahrgang/Band: | 150 |
Ausgabe/Heft: | 427 |
Erste Seite: | 427 |
Letzte Seite: | 437 |
Freie Schlagwörter: | Laser; TEM |
ISSN: | 1862-6300 |
ISSN: | 0031-8965 |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access") |
Datum der Freischaltung: | 19.02.2016 |
Referierte Publikation: | Ja |
Datum der Eintragung als referierte Publikation: | 01.11.1996 |