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Newsletter - Metrology for the manufacturing of thin films

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Autor*innen:Andreas HertwigORCiD, F.A. De Castro
Dokumenttyp:Newsletter
Veröffentlichungsform:Graue Literatur
Sprache:Deutsch
Jahr der Erstveröffentlichung:2012
Herausgeber (Institution):EURAMET - European association of national metrology institutes
Ausgabe/Heft:February
Erste Seite:1
Letzte Seite:4
Freie Schlagwörter:Coatings technology; Metrology; Optoelectronics; Photovoltaics; Thin films; Traceability
URL:http://projects.npl.co.uk/optoelectronic_films/documents/EMRP%20ThinFilms_Newsletter%20Feb%202012.pdf
Verfügbarkeit des Dokuments:Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access")
Bibliotheksstandort:Sonderstandort: Publica-Schrank
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
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