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Reliability of polymer based composites - interfaces and interphases from the nanomechanical point of view

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Autor*innen:Martin Munz, Heinz SturmORCiD, Eckhard Schulz
Dokumenttyp:Beitrag zu einem Sammelband
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Proceedings of the 15th International Congress on Electron Microscopy
Jahr der Erstveröffentlichung:2002
Verlag:Microscopy Society of Southern Africa
Verlagsort:Onderstepoort
Erste Seite:619
Letzte Seite:620
Veranstaltung:15th International Congress on Electron Microscopy (ICEM)
Veranstaltungsort:Durban, South Africa
Beginndatum der Veranstaltung:2002-09-01
Enddatum der Veranstaltung:2002-09-06
ISBN:0-620-29294-6
Verfügbarkeit des Dokuments:Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access")
Bibliotheksstandort:Sonderstandort: Publica-Schrank
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
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