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Spherical AFM Probes for Adhesion Force Measurements on Metal Single Crystals

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Autoren/innen:Bert Stegemann, Henrik Backhaus, Heinz Kloß, Erich Santner
Persönliche Herausgeber/innen:A. Méndez-Vilas, J. Diaz
Dokumenttyp:Beitrag zu einem Sammelband
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Modern Research and Educational Topics in Microscopy - FORMATEX Microscopy series No. 3
Jahr der Erstveröffentlichung:2007
Herausgeber (Institution):FORMATEX
Verlagsort:Badajoz, Spain
Jahrgang/Band:2
Erste Seite:820
Letzte Seite:827
Freie Schlagwörter:Adhesion force; Antimony; Atomic force microscopy; Copper; Force distance curves; Silver; Ultrahigh vacuum
ISBN:978-84-611-9420-9
Verfügbarkeit des Dokuments:Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access")
Bibliotheksstandort:Sonderstandort: Publica-Schrank
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein