• Treffer 1 von 1
Zurück zur Trefferliste

Spherical AFM Probes for Adhesion Force Measurements on Metal Single Crystals

Metadaten exportieren

Weitere Dienste

Teilen auf Twitter Suche bei Google Scholar Anzahl der Zugriffe auf dieses Dokument
Metadaten
Autor*innen:Bert Stegemann, Henrik Backhaus, Heinz Kloß, Erich Santner
Persönliche Herausgeber*innen:A. Méndez-Vilas, J. Diaz
Dokumenttyp:Beitrag zu einem Sammelband
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Modern Research and Educational Topics in Microscopy - FORMATEX Microscopy series No. 3
Jahr der Erstveröffentlichung:2007
Herausgeber (Institution):FORMATEX
Verlagsort:Badajoz, Spain
Jahrgang/Band:2
Erste Seite:820
Letzte Seite:827
Freie Schlagwörter:Adhesion force; Antimony; Atomic force microscopy; Copper; Force distance curves; Silver; Ultrahigh vacuum
ISBN:978-84-611-9420-9
Verfügbarkeit des Dokuments:Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access")
Bibliotheksstandort:Sonderstandort: Publica-Schrank
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
Einverstanden
Diese Webseite verwendet technisch erforderliche Session-Cookies. Durch die weitere Nutzung der Webseite stimmen Sie diesem zu. Unsere Datenschutzerklärung finden Sie hier.