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Morphology of nanoparticles - A characterization using high-resolution SEM

  • Potential candidates of reference nano-materials are manufactured and systematically characterized in particular with respect to their morphology (shape, size and size distribution) in the frame of the running large European project NanoValid. By exploiting the transmission operation mode in a SEM, known as T-SEM, it is demonstrated by means of three representative examples of nanoparticles how a quick morphological inspection up to a complete, metrological characterization is feasible.

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Autor*innen:Vasile-Dan HodoroabaORCiD, Steffi Rades, Kishore Natte, Guillermo Orts Gil, Wolfgang UngerORCiD
Dokumenttyp:Zeitschriftenartikel
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):GIT Imaging & Microscopy
Jahr der Erstveröffentlichung:2013
Verlag:GIT-Verl.
Verlagsort:Darmstadt
Jahrgang/Band:15
Ausgabe/Heft:1
Erste Seite:54
Letzte Seite:56
Freie Schlagwörter:NanoValid; Nanoparticles; SEM; T-SEM; TEM
ISSN:1439-4243
ISSN:1863-7809
Verfügbarkeit des Dokuments:Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access")
Datum der Freischaltung:20.02.2016
Referierte Publikation:Nein
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