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Autor*innen:Gerd-Rüdiger Jaenisch, Carsten BellonORCiD, Uwe Ewert
Dokumenttyp:Beitrag zu einem Tagungsband
Veröffentlichungsform:Graue Literatur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):17th World Conference on Non-Destructive Testing (Proceedings)
Jahr der Erstveröffentlichung:2008
Herausgeber (Institution):Zhongguo-Wusun-Jiance-Xuehui
Verlag:International Committee for Non-Destructive Testing
Verlagsort:Shanghai
Erste Seite:1
Letzte Seite:6
Freie Schlagwörter:Computed Tomography; Computer Simulation; Radiography; Ray Tracing
Veranstaltung:17th World Conference on Non-Destructive Testing
Veranstaltungsort:Shanghai, China
Beginndatum der Veranstaltung:2008-10-25
Enddatum der Veranstaltung:2008-10-28
Verfügbarkeit des Dokuments:Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access")
Bibliotheksstandort:Sonderstandort: Publica-Schrank
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
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