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Scatter imaging – Simulation of aperture focusing by deconvolution
- X-ray scatter imaging is a well-established NDT technique to inspect complex objects using only a single-sided access. We present a specially designed multi-slit scatter camera consisting of several twisted slits which are parallelly arranged in a metal block. The camera projects one image per slit to the digital detector array, where the images are overlaying each other. The aperture is corrected based on a de-convolution algorithm to focus the overlaying projections into a single representation of the object. To achieve high scatter intensities from an object, it is necessary to optimize the parameters of the scatter system by simulation.
Autor*innen: | Gerd-Rüdiger Jaenisch, Frank Wieder, Justus Vogel, Uwe Ewert, Carsten BellonORCiD, Magdalena Messerschmid |
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Persönliche Herausgeber*innen: | C. Xu |
Dokumenttyp: | Beitrag zu einem Tagungsband |
Veröffentlichungsform: | Verlagsliteratur |
Sprache: | Englisch |
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | Proceedings of 2017 IEEE far east NDT new technology and application forum (FENDT 2017) |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 2018 |
Organisationseinheit der BAM: | 8 Zerstörungsfreie Prüfung |
8 Zerstörungsfreie Prüfung / 8.0 Abteilungsleitung und andere | |
Verlag: | IEEE |
Verlagsort: | Piscataway, NJ |
Erste Seite: | 301 |
Letzte Seite: | 306 |
DDC-Klassifikation: | Naturwissenschaften und Mathematik / Chemie / Analytische Chemie |
Freie Schlagwörter: | Aperture focusing; Computer simulation; Deconvolution; Scatter imaging |
Themenfelder/Aktivitätsfelder der BAM: | Chemie und Prozesstechnik |
Veranstaltung: | IEEE Far East NDT New Technology & Application Forum |
Veranstaltungsort: | Xi'an, China |
Beginndatum der Veranstaltung: | 22.06.2017 |
Enddatum der Veranstaltung: | 24.06.2017 |
DOI: | 10.1109/FENDT.2017.8584606 |
ISBN: | 978-1-5386-1615-4 |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Datei im Netzwerk der BAM verfügbar ("Closed Access") |
Datum der Freischaltung: | 03.07.2019 |
Referierte Publikation: | Nein |