Measurements with compound refractive lenses at the "BAMline"
- A set of compound refractive lenses (CRLs), mounted on a silicon wafer, was obtained from the Institut für Mikrostrukturtechnik Karlsruhe. The CRLs were characterized at the BAMline at the synchrotron BESSYII in Berlin. It could be demonstrated that beam diameters below 1 µm can be obtained. The beam size accepted by the lenses is (140 × 140) µm2, thus the intensity gain in the micrometer spot, including absorption, is about 15,000. It is possible to switch between different beam energies within a few minutes. First results of scans and the application of the lenses for MicroXANES (X-ray absorption near-edge structure) measurements are presented in this paper. Also, the possibility of MicroEXAFS (extended X-ray absorption fine structure) measurements is discussed.
Autor*innen: | Erik Strub, Martin RadtkeORCiD, Uwe Reinholz, Heinrich Riesemeier, E. Reznikova |
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Dokumenttyp: | Zeitschriftenartikel |
Veröffentlichungsform: | Verlagsliteratur |
Sprache: | Englisch |
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch): | Nuclear instruments and methods in physics research B |
Jahr der Erstveröffentlichung: | 2008 |
Verlag: | Elsevier |
Verlagsort: | Amsterdam |
Jahrgang/Band: | 266 |
Ausgabe/Heft: | 10 |
Erste Seite: | 2165 |
Letzte Seite: | 2168 |
Freie Schlagwörter: | EXAFS; Speciation; X-ray optics; XANES; XAS; XRF |
DOI: | 10.1016/j.nimb.2008.02.057 |
ISSN: | 0168-583X |
ISSN: | 1872-9584 |
Verfügbarkeit des Dokuments: | Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access") |
Bibliotheksstandort: | Sonderstandort: Publica-Schrank |
Datum der Freischaltung: | 19.02.2016 |
Referierte Publikation: | Ja |
Datum der Eintragung als referierte Publikation: | 05.06.2008 |