• Treffer 3 von 14
Zurück zur Trefferliste

Measurements with compound refractive lenses at the "BAMline"

  • A set of compound refractive lenses (CRLs), mounted on a silicon wafer, was obtained from the Institut für Mikrostrukturtechnik Karlsruhe. The CRLs were characterized at the BAMline at the synchrotron BESSYII in Berlin. It could be demonstrated that beam diameters below 1 µm can be obtained. The beam size accepted by the lenses is (140 × 140) µm2, thus the intensity gain in the micrometer spot, including absorption, is about 15,000. It is possible to switch between different beam energies within a few minutes. First results of scans and the application of the lenses for MicroXANES (X-ray absorption near-edge structure) measurements are presented in this paper. Also, the possibility of MicroEXAFS (extended X-ray absorption fine structure) measurements is discussed.

Metadaten exportieren

Weitere Dienste

Teilen auf Twitter Suche bei Google Scholar Anzahl der Zugriffe auf dieses Dokument
Metadaten
Autor*innen:Erik Strub, Martin RadtkeORCiD, Uwe Reinholz, Heinrich Riesemeier, E. Reznikova
Dokumenttyp:Zeitschriftenartikel
Veröffentlichungsform:Verlagsliteratur
Sprache:Englisch
Titel des übergeordneten Werkes (Englisch):Nuclear instruments and methods in physics research B
Jahr der Erstveröffentlichung:2008
Verlag:Elsevier
Verlagsort:Amsterdam
Jahrgang/Band:266
Ausgabe/Heft:10
Erste Seite:2165
Letzte Seite:2168
Freie Schlagwörter:EXAFS; Speciation; X-ray optics; XANES; XAS; XRF
DOI:10.1016/j.nimb.2008.02.057
ISSN:0168-583X
ISSN:1872-9584
Verfügbarkeit des Dokuments:Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access")
Bibliotheksstandort:Sonderstandort: Publica-Schrank
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Ja
Datum der Eintragung als referierte Publikation:05.06.2008
Einverstanden
Diese Webseite verwendet technisch erforderliche Session-Cookies. Durch die weitere Nutzung der Webseite stimmen Sie diesem zu. Unsere Datenschutzerklärung finden Sie hier.