Anwendung der holographischen shearing-Interferometrie zur vollständigen Bestimmung ebener Spannungszustände in Modellen
MetadatenAutor*innen: | Erich Hosp, Jürgen Knapp |
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Dokumenttyp: | Beitrag zu einem Sammelband |
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Veröffentlichungsform: | Verlagsliteratur |
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Sprache: | Deutsch |
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Titel des übergeordneten Werkes (Deutsch): | 6. Internationale Konferenz Experimentelle Spannungsanalyse (VDI-Berichte 313) |
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Jahr der Erstveröffentlichung: | 1978 |
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Verlag: | VDI-Verl. |
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Verlagsort: | Düsseldorf |
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Jahrgang/Band: | 313 |
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Erste Seite: | 187 |
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Letzte Seite: | 193 |
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Veranstaltung: | 6. Internationale Konferenz Experimentelle Spannungsanalyse |
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Veranstaltungsort: | München, Deutschland |
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Beginndatum der Veranstaltung: | 1978-09-18 |
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Enddatum der Veranstaltung: | 1978-09-22 |
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ISSN: | 0083-5560 |
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ISBN: | 3-18-090313-9 |
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Verfügbarkeit des Dokuments: | Physisches Exemplar in der Bibliothek der BAM vorhanden ("Hardcopy Access") |
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Bibliotheksstandort: | ZM 54/25:1978/167 |
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Datum der Freischaltung: | 19.02.2016 |
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Referierte Publikation: | Nein |
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