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Rasterkraftmikroskopie mit Leitfähigkeitskontrast zur Oberflächenanalyse von Carbonfaser-Compositen und plasmamodifizierten Jodthiophen auf Si-Wafer

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Autor*innen:Eckhard Schulz
Koautor*innen:Heinz Sturm
Dokumenttyp:Vortrag
Veröffentlichungsform:Präsentation
Sprache:Deutsch
Titel des übergeordneten Werkes (Deutsch):27. Tagung der Deutschen Gesellschaft für Elektronenmikroskopie
Jahr der Erstveröffentlichung:1995
Veranstaltung:27. Tagung der Deutschen Gesellschaft für Elektronenmikroskopie
Veranstaltungsort:Leipzig, Germany
Beginndatum der Veranstaltung:1995-09-10
Enddatum der Veranstaltung:1995-09-15
Verfügbarkeit des Dokuments:Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access")
Datum der Freischaltung:19.02.2016
Referierte Publikation:Nein
Eingeladener Vortrag:Nein
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