Rasterkraftmikroskopie mit Leitfähigkeitskontrast zur Oberflächenanalyse von Carbonfaser-Compositen und plasmamodifizierten Jodthiophen auf Si-Wafer
MetadatenAutor*innen: | Eckhard Schulz |
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Koautor*innen: | Heinz Sturm |
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Dokumenttyp: | Vortrag |
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Veröffentlichungsform: | Präsentation |
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Sprache: | Deutsch |
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Titel des übergeordneten Werkes (Deutsch): | 27. Tagung der Deutschen Gesellschaft für Elektronenmikroskopie |
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Jahr der Erstveröffentlichung: | 1995 |
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Veranstaltung: | 27. Tagung der Deutschen Gesellschaft für Elektronenmikroskopie |
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Veranstaltungsort: | Leipzig, Germany |
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Beginndatum der Veranstaltung: | 1995-09-10 |
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Enddatum der Veranstaltung: | 1995-09-15 |
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Verfügbarkeit des Dokuments: | Weder Datei noch physisches Exemplar vorhanden ("No Access") |
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Datum der Freischaltung: | 19.02.2016 |
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Referierte Publikation: | Nein |
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Eingeladener Vortrag: | Nein |
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